ANALYZER3缺陷检测与传统的CCD视觉测量的区别

ANALYZER3内孔激光缺陷检测系统是根据圆形孔内壁的反射光亮度的区别进行缺陷筛选。探头前端发射出激光束在圆形孔内壁进行螺旋式的扫描时，光纤会接收到来自工件内壁的反射光。可以检测气孔,砂眼,划痕等表面缺陷及孔内是否有异物,毛刺,卡削等问题.

那与传统的视觉检测有什么不同呢?可以从以下几个方面来比较.

1)首先检测方式不同

Analyzer激光探头是点的激光螺旋式扫描.探头以15000转/分钟的速度旋转,Z轴移动,实现螺旋式扫描.

CCD视觉一般是面成相.

2)检测精度不同

Analyzer激光检测默认是0.2mm,极限是0.1mm,可以进行0.01mm的精细扫描

而CCD视觉是0.3mm以上

3)外部光源不同

Analyzer激光检测缺陷装置,不需要外部光源且不收光线影响.

CCD检测需要稳定的光源打光，并且要求外部光线环境稳定

4)检测内孔范围

Analyzer激光检测缺陷装置φ4mm~200mm的孔径，针对定制探头最小可以检测直径3mm孔

而CCD视觉理论上小于镜头的孔径，只能在孔外部进行多角度拍摄

5)检测深度范围

Analyzer激光检测缺陷装置可以测量200mm深，也可定制更长的探测头，实现更深的内孔探测

CCD视觉一般能到30mm以内图像有效

6)不良筛查

Analyzer激光检测缺陷装置可以根据设定条件，对扫描的缺陷尺寸进行OK和NG的判定,可根据扫描的缺陷数据，对工件的不良趋势，刀具的寿命进行预判

CCD视觉对拍到的图片进行缺陷的有或无的判定，无法量化每个缺陷的形状和大小尺寸

7)漏判定率,过判定率

nalyzer激光检测缺陷装置可以进行精细扫描，极小的缺陷都可以看到，不会漏判定并根据客户缺陷定义缺陷，极小概率过判定,不需要学习,直接按照要求设定阈值.

CCD视觉无法拍摄到极小的缺陷，轻微的缺陷容易漏判.受零件水渍或者清洗痕迹影响，过判定率很高,而且需要学习缺陷的种类和形状.